Escuela de técnicas de caracterización avanzada de materiales

Microscopía Electrónica de Barrido y técnicas asociadas (EDX y EBSD)

Se tratarán los siguientes aspectos:

Origen de las señales que se detectan en cada técnica e información que portan (e- secundarios, e- retrodispersados (imagen y EBSD), fotones RX (EDX)
Requisitos de las muestras y preparación: Conductoras (metalización), rugosas/pulido
Campos de aplicación y ejemplos: morfología, imagen composicional y composición, información cristalográfica…

Ponentes

Sergio Fernández

UPV/EHU SGIker

Bio

Sergio Fernández es Licenciado Química UPV/EHU 1998 y Doctor 2003. Tras trabajar un año como postdoc en cátodos de pilas de combustible, en 2004 se incorporó como técnico del SGIker de la UPV/EHU. Actualmente es el responsable del Servicio de Microscopía Electrónica y Microanálisis de Materiales en el campus de Leioa.