Escuela de técnicas de caracterización avanzada de materiales

La Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) es una técnica de análisis no destructiva ampliamente utilizada en la caracterización química de superficies de materiales, que permite obtener información sobre los elementos presentes en la superficie, así como sobre su estado de oxidación y/o entorno químico (coordinación). Se pueden llevar a cabo también estudios de distribución de elementos en función de la profundidad de la muestra, de manera destructiva (mediante Ar sputtering, que alcanza mayor profundidad) o no destructiva (XPS con resolución angular). Se puede analizar mediante XPS todo tipo de superficies sólidas compatibles con sistemas de alto vacío, en áreas de aplicación tan diversas como estudios de adhesión, catálisis, corrosión, tratamientos superficiales, electrónica, metalurgia, segregación superficial, análisis de deposición de capas, entre otras muchas.