Portugalete, 16 - 19 de junio de 2026
Rayos X (difracción, absorción y fluorescencia)
Las prestaciones de la unidad de Rayos X de SGIker abarcan todos los aspectos del estudio de una estructura cristalina a partir de datos de difracción en monocristal y de materiales policristalinos. Esta técnica permite identificar las fases cristalinas presentes en la muestra, su cuantificación, análisis de perfil, size-strain, textura, stress, microdifracción, incidencia rasante, reflectometría, no ambiental, etc.
A su vez, el servicio dispone de equipamiento para la realización de medidas de micro fluorescencia (análisis puntual y mapeos) así como medidas de tomografía computerizada (micro-nano CT).
Ponentes
Leire San Felices
Servicios Generales de Investigación (SGIker), UPV/EHU
Licenciada en Ciencias Químicas 2001 por la UPV/EHU. Defendió su Tesis de Licenciatura y su Tesis Doctoral en la misma universidad. Tras dos años como técnico de difracción de RX en el ICUQ, en 2011 se incorporó como Técnico Superior de Servicios Generales de Investigación SGIker. Ha participado en varios proyectos de investigación estatales, autonómicos y de la propia universidad. Su trabajo lo ha divulgado publicaciones, capítulos de libro y comunicaciones a congresos nacionales e internacionales. También ha dirigido una tesis doctoral.
Aitor Larrañaga
Servicios Generales de Investigación (SGIker), UPV/EHU
Aitor Larrañaga es Licenciado en Ciencias Geológicas por la UPV/EHU. Defendió su Tesis de Licenciatura y su Tesis Doctoral en Ciencias en la misma universidad. Tras 2 años como investigador doctor en el Grupo de Cristalografía de Materiales, se incorporó como Técnico Superior de Servicios Generales de Investigación SGIker-RX en 2007. Ha participado en numerosos proyectos de investigación estatales, autonómicos y de la propia universidad. Su trabajo lo ha divulgado en numerosas publicaciones, capítulos de libro y comunicaciones a congresos nacionales e internacionales. También ha dirigido varias tesis doctorales.
